Abstract
X-stralen computertomografie (XCT) wordt veelvuldig toegepast in materiaalwetenschappen en industriële toepassingen (bvb. niet-destructief testen en inspectie) voor niet-invasieve beeldvorming. Terwijl bij traditionele XCT het beeldcontrast enkel gegenereerd wordt door absorptie van X-stralen, wordt met fasecontrast X-stralen beeldvorming ook het lokale verstrooiingsvermogen in het object en de faseverschuiving van de X-stralen gemeten, waardoor nieuwe contrasten zichtbaar worden. Edge Illumination (EI) is een fasecontrast-techniek die compatibel is met conventionele, polychromatische X-stralen bronnen en heeft daardoor een groot potentieel voor toepassing in de industrie. De scantijden van EI-XCT zijn echter substantieel langer dan deze van traditionele XCT. Om dit te verhelpen, zal ik nieuwe acquisitie- en reconstructiemethodes ontwikkelen voor EI-XCT, die in staat zijn om drie complementaire contrasten te genereren in een opnametijd die vergelijkbaar is met die van traditionele XCT. De ontwikkelde methodes worden gecombineerd met een iteratieve reconstructie techniek om een kwantitatieve reconstructie te bevorderen. Een snelle en kwantitatieve EI-XCT methode zal het potentieel om EI-XCT industrieel inzetbaar te maken, sterk verhogen.
Onderzoeker(s)
Onderzoeksgroep(en)
Project type(s)